數控外圓磨床廠家：數控外圓磨床常見故障排除方法（二）

4、功能程序測試法

  數控外圓磨床功能程序測試法是將數控系統的G、M、S、T、F功能用編程法編成一個功能試驗程序，并存儲在響應的介質上，如紙袋和磁帶等。在故障診斷時運行這個程序，可快速判斷故障發生的可能起因。

  功能程(cheng)序測試法常應用于以下場(chang)合：

A、磨床加工造(zao)成廢品而一(yi)時無法確定是(shi)(shi)編程操作(zuo)不當(dang)、還(huan)是(shi)(shi)數控系統(tong)故(gu)障引起；

B、數(shu)控系統(tong)出(chu)現隨機性故(gu)障(zhang)，一時(shi)難以區別是外來干擾，還(huan)是系統(tong)穩定性不好；

C、閑置(zhi)時(shi)(shi)間較長的數控(kong)外圓磨(mo)床(chuang)在投(tou)入使用前(qian)或對數控(kong)磨(mo)床(chuang)進行定期檢修時(shi)(shi)。

3.5備件(jian)替換(huan)法

  用(yong)好的(de)備(bei)件替(ti)換診斷出(chu)壞的(de)線路(lu)板，即(ji)在分析(xi)出(chu)故障(zhang)大(da)致起(qi)因(yin)的(de)情(qing)況下，維修(xiu)人員可以利用(yong)備(bei)用(yong)的(de)印(yin)刷(shua)(shua)電(dian)路(lu)板、集(ji)成電(dian)路(lu)芯(xin)片(pian)或(huo)元(yuan)器(qi)件替(ti)換有疑點的(de)部分，從而把故障(zhang)范圍(wei)縮小到印(yin)刷(shua)(shua)線路(lu)板或(huo)芯(xin)片(pian)一(yi)級。并做相應的(de)初始化起(qi)動，是(shi)數(shu)控外圓磨床迅速投入正常運轉。

  對于現代(dai)數控的維修，越(yue)來(lai)越(yue)多的情況采用(yong)這(zhe)種方法(fa)進行診(zhen)斷，然后用(yong)備件替換(huan)損壞模塊，使(shi)系統(tong)正常工作(zuo)。盡最大可能縮短故障停機時(shi)間(jian)，使(shi)用(yong)這(zhe)種方法(fa)在操作(zuo)時(shi)注意一定要在停電狀(zhuang)態下(xia)進行，還要仔細檢(jian)查線路板的版本、型號(hao)、各種標(biao)記、跨接是否相同(tong)，若不(bu)一致則不(bu)能更換(huan)。拆線時(shi)應(ying)做好標(biao)志和(he)記錄。

  一般不要輕易更換CPU板、存儲器板及電池(chi)，否則有可能(neng)造(zao)成(cheng)程序和磨(mo)床參(can)數的丟失(shi)，是故障擴大。

3.6交叉換位法(fa)

  當(dang)發現故(gu)障板或者不能確定是否(fou)是故(gu)障板而又沒有備件的情況下(xia)，可以將系統中相同或兼容的兩個板互換檢查(cha)，例如(ru)兩個坐標的指令板或伺服板的交(jiao)換，從中判斷故(gu)障板或故障部位。這種交叉換位法應特別注意，不僅要硬件接線的正確交換，還要將一系列相應的參數交換，否則不僅達不到目的，反而會產生新的故障造成思維混亂，一定要事先考慮周全，設計好軟、硬件交換方案，準確無誤再進行交換檢查。

3.7參數檢查法(fa)

  數控外圓磨床系統參數是確定系統功能的依據，參數設定錯誤就可能造成系統的故障或某功能無效。發生故障時應及時核對系統參數，參數一般存放在磁泡存儲器或需由電池保持的CMOSRAM中，一旦電池電量不足或由于外界的干擾因素，使個別參數丟失或變化，發生混亂，使機床無法正常工作。此時，可通過核對、修正參數，將故障排除。